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美高测HVI TD-65E超低频耐压电缆诊断测试仪
详细信息| 询价留言品牌：美高测HVI 电池种类：碱性电池/可充电电池 尺寸：152×203×457mm 测量范围：1-65kV 用途：介质损耗角正切电桥诊断测试 重量：21.34kg 美高测HVI TD-65E超低频耐压电缆诊断测试仪适用于额定电压至35kV电缆的介质损耗角正切电桥诊断测试。现在热卖中，如需购买，可通过客服热线联系我们!
TD-65E超低频耐压电缆诊断测试仪
适用范围：额定电压至 35kV 的电缆诊断测试
TD-65E超低频耐压电缆诊断测试仪产品概述TD-65E 介质损耗角正切电桥（Tan Delta Bridge）专为与 VLF-34E 或 VLF-65E 设备无线通信（基于 XBee 协议）而设计，构成完整的电缆诊断系统。该系统提供无线通信、数据采集及报告生成（通过配套的 E-Link PC 软件）等高端功能，可依据 IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等国际标准，对 5-35kV 主电缆进行介质损耗角正切（Tan δ，又称损耗因数或损耗角）测试。
TD-65E超低频耐压电缆诊断测试仪产品特点：1. 功能集成与无线通信
- 系统兼容性：与 VLF-34E 或 VLF-65E 甚低频耐压设备无线联动（基于 XBee 802.15.4 协议），构成完整电缆诊断系统。
- 无线操作：支持约 30 英尺（9 米） 范围内的远程控制与数据传输，提升现场测试灵活性。
2. 高精度诊断测试
- 多参数测量：
- 电压：1-65kVp（46kV 有效值），±1% 精度，0.1kV 分辨率。
- 电流：0-150mAp（106mA 有效值），±1% 精度，1μA 分辨率。
- 介质损耗角正切（Tan δ）：0.1Hz-0.01Hz 频率范围，5nF-10μF 电容负载，精度达 1.0×10⁻⁴，分辨率 1.0×10⁻⁵。
- 非破坏性测试：通过逐步升压并监控数据，避免因绝缘严重劣化导致电缆击穿。
3. 标准化与兼容性
- 多标准支持：符合 IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1 等国际标准。
- 绝缘类型覆盖：适用于 PE/XLPE、未识别填充绝缘（EPR）、矿物填充绝缘（EPR） 等多种电缆类型。
4. 智能数据分析
- E-Link 软件：提供远程控制、数据采集及报告生成功能，支持 Tan δ 稳定性、Tip Up（介损增量）及 平均介损值 的量化分析。
- 状态评估阈值：基于 IEEE 400.2-2013 标准，自动判断电缆绝缘状态（无行动、建议分析、需立即处理）。
5. 便携与扩展设计
- 分体式结构：TD 传感器（含三脚架）仅 7 磅（3.2kg），携带箱总重 40 磅（18.14kg），便于现场运输。
- 附件兼容性：标配多种输出电缆及测试工具（如环形互感器、铝球电极），适配不同型号 VLF 设备。
6. 安全与可靠性
- CE 认证：符合欧盟安全与电磁兼容标准。
- ISO 9001 认证：HVI 公司生产，确保产品质量一致性。
7. 应用场景
- 预防性维护：检测电缆绝缘老化、污染或水树缺陷。
- 故障诊断：结合耐压测试定位绝缘薄弱点。
- 验收测试：验证新电缆绝缘性能是否符合标准。
测试原理：
介质损耗角正切测试是一种非破坏性诊断方法，用于评估中高压屏蔽电缆绝缘的老化程度。测试结果可反映绝缘层的污染、损伤或水树老化情况。测试通过离线方式在断电电缆上进行，使用甚低频（0.1Hz）耐压设备提供测试电压，同时电桥记录测试数据。通过逐步升压并监控读数，可避免因绝缘严重劣化导致的电缆击穿风险。 -
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